Neue Diagnostikmethoden im Blickpunkt

Zum CAM-Workshop 2017 werden rund 150 internationale Experten erwartet. Schwerpunktthema sind neue Diagnostikmethoden und -geräte für die Mikroelektronik.

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Testzentrum für die Automobilelektronik der Zukunft

Am Fraunhofer CAM bestehen künftig noch bessere Möglichkeiten zur Mikrostrukturaufklärung in Elektronikbauteilen.

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Fehlerdiagnostik wird immer wichtiger

Die Zuverlässigkeit elektronischer Bauteile wird für die europäische Mikroelektronik- und Automobilindustrie immer wichtiger, etwa im Hinblick auf das autonome Fahren. Das ist eines der Ergebnisse der Fachtagung ESREF 2016 in Halle.

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Kennzeichnung für Hightech-Gläser

Gemeinsam mit der boraident GmbH arbeitet das Fraunhofer IMWS an neuen Verfahren zur Markierung von Glas.

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Präzise Probenbearbeitung im Nanometerbereich

Jede Analyse ist nur so gut wie die Qualität der Probe - das gilt auch in der Elektronenmikroskopie. Ein am Fraunhofer IMWS entwickeltes Gerät vereinfacht die Arbeiten deutlich.

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Mikroelektronik

Abriss Diagnostik Erkennung Ebene
© Foto Fraunhofer IMWS

Reißen an einem Mikrochip Kontakte, lässt sich das nur unter dem Mikroskop erkennen.

Wir untersuchen Komponenten, Systeme und Materialien der Elektronik, Mikrosystemtechnik und der Nanotechnologien, beispielsweise  integrierte Halbleiterschaltkreise, Sensoren, elektronische Bauelemente und Baugruppen sowie nanostrukturierte Funktionswerkstoffe. Diese werden umfassend analysiert und getestet, um den Zusammenhang zwischen Funktionsverhalten,  Mikrostruktur und Materialeigenschaften im Detail zu verstehen. Einen Schwerpunkt unserer Arbeiten bildet u.a. die schnelle und kundenorientierte Aufklärung von Fehlerursachen und von Defektbildungen mittels einer umfassenden und höchstauflösenden Diagnostik.  Die Ergebnisse fließen in die Herstellungsprozesse der Kunden ein und tragen zur Steigerung von Qualität und Zuverlässigkeit der Systeme in der Anwendung bei. Unsere Kunden und Partner kommen vor allem aus der Zuliefererkette der Automobilelektronik, aber auch aus der Kommunikationstechnik, Optik, Medizin- und Consumerindustrie,  der Leistungselektronik für die Energie- und Industrietechnik sowie aus dem Bereich der Gerätezulieferer für mikrostrukturelle Diagnostik und Test.

Wir bieten:

  • Materialdiagnostik von Bauelementen, Komponenten und Werkstoffen der Elektronik, Mikrosystemtechnik und Nanotechnologie
  • komplexe physikalische Fehleranalytik, numerische Simulation und Lebensdauervorhersage
  • Entwicklung von Diagnostik-, Prüf-, Test- und Modellierungsverfahren sowie der zugehörigen Werkzeuge