Lichtmikroskopie

Fehleranalyse Mikrochips Fraunhofer IMWS
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Unter dem Lichtmikroskop können beispielsweise Proben von Mikrochips auf sichtbare Fehler untersucht werden. Die Analyse fehlerhafter Chips ist ein wichtiger Teil der täglichen Arbeit am Fraunhofer IMWS.

Die Lichtmikroskopie ist ein optisches Prüfverfahren, das am Fraunhofer IMWS angewendet wird, um Materialien und Proben unter sichtbarem Licht zu untersuchen. Es ermöglicht die Beobachtung von Strukturen, Oberflächenmerkmalen und anderen Eigenschaften der Probe. Bei der Lichtmikroskopie wird Licht durch eine Linse oder ein System von Linsen geleitet, um die Probe zu beleuchten. Das Licht wird dann durch eine weitere Linse vergrößert und auf eine Detektoroberfläche projiziert, um ein vergrößertes Bild der Probe zu erzeugen. Es gibt verschiedene Arten von Lichtmikroskopen, darunter das Auflichtmikroskop und das Durchlichtmikroskop.

Das Auflichtmikroskop beleuchtet die Probe von oben, während das Durchlichtmikroskop Licht von unten durch die Probe hindurchleitet. Die Lichtmikroskopie kann verwendet werden, um verschiedene Materialien zu untersuchen, einschließlich Metalle, Keramik, Kunststoffe, biologische Proben und vieles mehr. Sie ermöglicht die Untersuchung von Strukturmerkmalen, Oberflächenbeschaffenheit, Defekten, Verunreinigungen und anderen Eigenschaften der Probe. Es ist zu beachten, dass die Lichtmikroskopie ihre Grenzen hat und nicht in der Lage ist, sehr kleine Strukturen im Nanometerbereich aufzulösen. Für eine höhere Auflösung und detailliertere Untersuchungen stehen jedoch weitere fortgeschrittene Verfahren wie die Elektronenmikroskopie zur Verfügung.