Innovation in der Fehleranalyse und Materialdiagnostik von elektronischen Bauteilen

Der CAM-Workshop bringt Expertinnen und Experten aus der Elektronikindustrie und Hersteller von Materialdiagnosegeräten zusammen. Ziel ist es, Herausforderungen, innovative Lösungen und zukünftige Anforderungen auf dem Gebiet der Fehleranalyse und Materialcharakterisierung von elektronischen Geräten, Sensoren und Systemen zu diskutieren.

Zusätzlich zu den geplanten Vorträgen wird es eine Industrieausstellung mit Anbietern von Geräten zur Fehleranalyse und Materialdiagnostik geben.