CAM-Workshop - Innovation in der Fehleranalyse und Materialdiagnostik von Elektronikkomponenten

Wie üblich bringt der CAM-Workshop Experten aus der Elektronikindustrie und Hersteller von Materialdiagnostikgeräten zusammen. Ziel ist es, Herausforderungen, innovative Lösungen und zukünftige Anforderungen im Bereich der Fehleranalyse und Materialcharakterisierung von elektronischen Geräten, Sensoren und Systemen zu diskutieren. Zusätzlich zu den geplanten Vorträgen wird es eine Industrieausstellung geben, auf der Anbieter von Geräten für die Fehleranalyse und Materialdiagnostik vertreten sind. Dieses einzigartige Konzept ermöglicht einen direkten Austausch zwischen Experten für die Fehleranalyse in der Elektronik und Herstellern von Diagnosegeräten.