Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWSFrank Altmann, Leiter des Elektronik-Geschäftsfelds am Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Materialien und Systemen IMWS, wurde zum Fellow von ASM International ernannt. Diese Auszeichnung würdigt seine Forschungsarbeit im Bereich der Fehleranalyse in der Mikroelektronik und der Materialdiagnostik sowie die Leistungen seines Teams in Halle (Saale). Die Verleihung fand im Rahmen der internationalen IMAT-Konferenz in Québec, Kanada, statt.
ASM International mit Sitz in den USA ist die weltweit größte Fachorganisation für Materialwissenschaften. Seit 1913 fördert sie Bildung, Forschung und industrielle Innovation, um globale Herausforderungen in diesem Bereich zu bewältigen. Innerhalb ihres Mitgliedsverbands Electronic Device Failure Analysis Society (EDFAS) konzentriert sich ASM zudem auf den Spezialbereich der Mikrostrukturdiagnostik in der Halbleitertechnik.
Der Titel »ASM Fellow« ist eine der höchsten Auszeichnungen der Organisation. Er wird jährlich an nicht mehr als 0,1 Prozent der Mitglieder für außergewöhnliche Beiträge zur Materialwissenschaft und zum Ingenieurwesen verliehen; derzeit tragen weltweit etwa 800 Fellows diesen Titel. Frank Altmann gehört nun diesem exklusiven Kreis an – in Anerkennung seiner herausragenden wissenschaftlich-technischen Beiträge zur internationalen Gemeinschaft der Elektronik-Fehleranalyse.
»Die Ernennung zum ASM-Fellow erfüllt mich mit Stolz und tiefer Dankbarkeit. Ich betrachte diese Ehrung auch als Anerkennung für die außergewöhnliche Arbeit meines Teams am Fraunhofer IMWS. Gleichzeitig unterstreicht sie die internationale Bedeutung unserer Forschung und dient als starke Motivation, diese Aktivitäten weiter voranzutreiben«, sagte Altmann bei der Entgegennahme der Auszeichnung.
Der Physiker leitet das Geschäftsfeld »Werkstoffe und Bauelemente der Elektronik« am Fraunhofer IMWS und ist stellvertretender Direktor des Instituts. Seine Forschung konzentriert sich auf die Materialcharakterisierung und Defektdiagnostik in der Halbleitertechnik sowie auf die Förderung von Innovationen bei Methoden und Geräten der Fehleranalyse.
Durch seine wissenschaftliche Arbeit und die enge Zusammenarbeit mit zahlreichen internationalen Industriepartnern hat er maßgeblich dazu beigetragen, neue Materialien auf den Elektronikmarkt zu bringen, die Fertigungsqualität in der Halbleitertechnik zu verbessern und die Zuverlässigkeit moderner elektronischer Systeme zu gewährleisten – insbesondere im anspruchsvollen Bereich der Automobilelektronik. Darüber hinaus hat Altmann diese Bereiche vorangetrieben, indem er Pionierarbeit bei der Entwicklung neuartiger Methoden zur Defekterkennung und Fehlerlokalisierung für moderne Chips leistete, die von Hunderttausenden bis zu Milliarden einzelner Transistoren im Nanometerbereich enthalten. Die Auszeichnung von Frank Altmann mit dem ASM Fellowship unterstreicht einmal mehr die führende Rolle des Fraunhofer IMWS auf dem Gebiet der angewandten Forschung in der Mikrostrukturdiagnostik, die auf langjähriger Expertise am Standort Halle (Saale) aufbaut.
Das Fraunhofer IMWS ist auf hochpräzise Analysen spezialisiert, die darauf abzielen, die Zuverlässigkeit und Lebensdauer von Werkstoffen, Bauteilen und Systemen zu erhöhen. Unter Einsatz modernster Techniken wie Elektronenmikroskopie, Festkörperspektroskopie, Oberflächen- und Spurenanalyse, mechanischer Werkstoffcharakterisierung, Modellierung und numerischer Simulation sowie Methoden der künstlichen Intelligenz unterstützt das Fraunhofer IMWS die Mikroelektronik-Industrie bei der Qualitätssicherung und bei der Entwicklung zukunftsweisender Lösungen im Rahmen gemeinsamer Forschungsprojekte.
Die Auszeichnung wurde auf der IMAT (International Materials, Applications, and Technologies) in Québec, Kanada, einer der größten Veranstaltungen im Bereich der Materialwissenschaften, verliehen. Die IMAT bringt Experten aus Industrie und Wissenschaft zusammen, um technologische Fortschritte zu präsentieren und internationale Netzwerke zu stärken.
(5. Oktober 2026)